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  • AP-CJ微电脑温冲试验箱
    AP-CJ微电脑温冲试验箱

    微电脑温冲试验箱适用于电子电器零组件、通讯组件、自动化零部件、汽车配件、化学材料、金属、塑胶等行业、航天、国防工业、BGA、兵工业、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物对高、低温的反复抵拉力及产品处于热胀冷缩的物理环境产出的化学变化或物理伤害,可确认各种产品的品质,从精密的IC到重机械的组件,无一不需要它,目前此设备是工业产业共认的理想测试工具。

    更新时间:2024-11-08型号:AP-CJ访问量:2350
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  • AP-CJ模拟环境温度冲击测试设备
    AP-CJ模拟环境温度冲击测试设备

    模拟环境温度冲击测试设备可在预约开机时间运转中自动提前预冷、预热、待机功能。结构设计为蓄热槽、测试槽、蓄冷槽三部分,被测试物品静止置放于测试室内,可选择2区或3区之测试功能。可独立设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件之功能,执行冷热冲击条件时,具有高低温试验机的功能。

    更新时间:2024-11-08型号:AP-CJ访问量:2164
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  • AP-CJ冷热冲击箱试验设备
    AP-CJ冷热冲击箱试验设备

    冷热冲击箱是一种用于测试产品在温度变化环境下的稳定性和可靠性的试验设备。该设备可以模拟高温、低温和急速温度变化的条件,从而评估产品在这些环境下的耐受能力。

    更新时间:2024-11-07型号:AP-CJ访问量:2365
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  • AP-CJ温冲试验设备标准
    AP-CJ温冲试验设备标准

    温冲试验设备标准试验目的是为了仿真不同电子构件,在实际使用环境中遭遇的温度条件,改变环境温差范围及急促升降温度改变,可以提供更为严格测试环境,缩短测试时间,降低测试费用,但是必须要注意可能对材料测试造成额外的影响,产生非使用状态的破坏试验。

    更新时间:2024-11-07型号:AP-CJ访问量:2461
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  • AP-CJ元器件热冲击
    AP-CJ元器件热冲击

    元器件热冲击用于测试电子产品,电子,电器,电子产品,电子元器件,数码产品,手机,电脑,太阳能组件等产品及零部件在瞬间下经*温及极低温的连续环境下忍受的程度,得以在Z短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。

    更新时间:2024-11-07型号:AP-CJ访问量:2144
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