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半导体高低温测试实验箱

简要描述:半导体高低温测试实验箱采用多翼式送风机强力送风循环,避免任何死角,可使测试区域内温度分布均匀。风路循环出风回风设计,风压、风速均符合测试标准,并可使开门瞬间温度回稳时间快。

  • 产品型号AP-GD
  • 厂商性质生产厂家
  • 更新时间2023-07-27
  • 访  问  量1947

详细介绍

品牌爱佩科技/A-PKJ价格区间面议
产地类别国产

半导体高低温测试实验箱加热系统:

1、采用远红外镍合金高速加温(2KW×2)电加热器

2、高温*独立系统,不影响低温试验、高温试验及交变湿热

3、温度控制输出功率均由微电脑演算,以达高精度及高效率之用电效益

制冷系统:

1、制冷机采用法国原装“泰康"全封闭压缩机。

2、美国“艾高"干燥过滤器,意大利“卡士妥"电磁阀冷冻系统采用单元或二元式低温回路系统设计。

3、采用多翼式送风机强力送风循环,避免任何死角,可使测试区域内温度分布均匀。风路循环出风回风设计,风压、风速均符合测试标准,并可使开门瞬间温度回稳时间快。

4、升温、降温、系统*独立可提高效率,降低测试成本,增长寿命,减低故障率

半导体高低温测试实验箱技术参数

1测试箱内部尺寸可选择:一:400*500*400MM;二:500*600*500MM;三:500*750*600MM;四:600*850*800MM;五:1000*1000*800MM;六:1000*1000*1000MM;如果这六个标准尺寸满足不了要求敬请把想要定制的非标尺寸提供给业务客服为您定制属于自己的非标方案.

2.测试箱内部尺寸:以内部尺寸拓展为实际尺寸为准.

3.测试箱可调的温度范围有五个温度段可选择:0℃~+150℃/-20℃~+150℃/-40℃~+150℃/-60℃~+150℃/-70℃~+~+150℃;注意,此设备不带湿度功能,如需要湿度要求请在询价时告诉爱佩科技业务员报带湿度20%RH-98%RH的报价方案.

4.测试箱温度控制精度:±0.2℃

5.测试箱温度均匀度:±0.2℃;

6.测试箱升降温时间:满足国家标准,升温平均每分钟约3℃,降温平均每分钟约1℃.

7.测试内箱采用优质不锈钢材质:SUS304

8.测试外箱采用优质不锈钢材质:SUS304或优质钢板烤漆.

9.保温材质:聚胺脂硬质发泡及玻璃棉

10.风路循环方式:离心风机+宽带式强迫气流循环(上出下进)

安全保护装置:

具备电源缺相、错相、电压不稳定保护;

具备加热器短路保护功能;

具备漏电/断路保护功能;

设备制造满足标准:

GB/T 2423.2-2001 试验B:高温试验方法

GJB 150.3-1986 高温试验

GB11158-89 高温试验箱技术条件

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