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通讯高低温冲击试验设备

简要描述:通讯高低温冲击试验设备用途:用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业用途:用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业,国防工业、航天、兵工业、电子芯片IC、 半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件,无一不需要它的理想测试工具。

  • 产品型号AP-CJ
  • 厂商性质生产厂家
  • 更新时间2020-09-29
  • 访  问  量289

详细介绍

品牌APKQ/爱佩科技价格区间面议
产地类别国产

通讯高低温冲击试验设备用途:用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业,国防工业、航天、兵工业、电子芯片IC、 半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件,无一不需要它的理想测试工具。
通讯高低温冲击试验设备特点
1)的造型设计,操作简易之面板接口
2)采用日制*彩色触控LCD中/英微电脑温湿度控制器。
3)具有程序建文件及档案管理之功能。
4)无纸式记录功能,具实时显示温度冲击试验变化之曲线图及记录双重功能。
5)冷热冲击机械移动时间在10秒内,可符合MIL,IEC,JIS等规范。
6)冷热冲击温度恢复时间在5秒内,可符合相关试验规范。
7)采用HFC环保冷媒,二元超低温冷冻系统设计,降温快效率高。
8)的中/英文版联机操作、设定、记录软件包。
主要技术参数 :
1.内箱尺寸:500*400*400mm(宽,高,深)更多小或者大的尺寸均可非标定制。
   外箱尺寸:1380*1980*1370mm(宽,高,深)非标容积的设备外尺寸以实际尺寸为标准。
3.预热温度范围:常温~+200℃;
3.预热高温度范围:常温~200℃;约30min;(储能温度范围)
4. 预冷温度范围:常温~-75℃;约80,min(储能温度范围)(注:降温时间为低温室单独运转时的性能)
5.试验方式:3温区(也称三箱式,爱佩还有两箱式结构可选择)
6.温度冲击范围:-65℃~+150℃(中间任意温度可恒定测试或者设定冲击)
7.温度波动度:±0.5℃
8.温度偏差:±2.0℃
9.温度冲击恢复时间:≤5min(负载;3KG塑胶)
符合标准:
GJB367.2-87 405温度冲击试验。 
SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——一箱式 
SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式
满足标准IEC68-2-14_试验方法N_温度变化 
GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则 
GB/T 2423.22-2002温度变化 
QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则, 
EIA 364-32热冲击(温度循环)测试程序的电连接器和插座的环境影响评估。
GB/T2423.1-2001低温试验方法; 
GB/T2423.2-2001高温试验方法;

 

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