高低温冲击箱老化箱/冷热冲击试验箱厂家

高低温冲击箱老化箱/冷热冲击试验箱厂家所满足的标准有以下:
GB/T2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分试验方法 试验A 低温;GJB360.7-87温度冲击试验;GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温;GB/T 10592 -2008 高低温试验箱技术条件;GB/T 10589-2008 低温试验箱技术条件;GB/T 11158-2008 高温试验箱技术条件;GB/T 2423.22-2002温度变化;GB/T 5170.1-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 总则;SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——一箱式；SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式;GB/T5170.2-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 温度试验设备;GB2424.1 电工电子产品环境试验 高低温试验导则;GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则;GJB150.3A-2009 军用装备实验室环境试验方法第3部分高温试验;GB/T2423.22-1989温度变化试验；GJB 150.4A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第4部分：低温试验;GJB 150.5A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第5部分：温度冲击试验;GJB367.2-1987 军用通信设备通用技术条件 环境试验方法;GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法 方法107 温度冲击试验;IEC68-2-14_试验方法N_温度变化;EIA 364-32热冲击（温度循环）测试程序的电连接器和插座的环境影响评估;QC/T 17-1992 汽车零部件耐候性试验一般规则 汽车行业标标准等等包括其它产品行业标准。
高低温冲击箱老化箱/冷热冲击试验箱厂家主要用于塑料产品做耐冷热冲击、交变、循环的温度变化环境中测试其性能、特点及物理变化。塑料耐冷热老化试验箱不需要使用液态气体（LN2LCO2）辅助降温，待测物*静止测试方式是当前电子部品测试用，研究用以及半导体生产线大量筛选用，可大量节省耗材测试费用。高信赖、操作快捷是本爱佩公司经多年潜心倾力研究，开发高性能试验箱，提供给大家可长期使用可靠性*的试验工具。
技术参数：
一、性能指标: 
1、温度范围: A:0℃～150℃；B:-20℃～150℃；C:-40℃～150℃；D:-55℃～150℃；F:-65℃～150℃
2、温度波动: ≤±0.5℃
3、温度均匀: ≤±2℃（箱内每个角落的分布误差或者偏差）
4、耐冷热老化转换时间小于等于10秒。
5、耐冷热老化温度恢复时间小于等于5分钟。
6、样品承重:有25KG;35KG;50KG;60KG（备注，一般设备的隔层承重约25KG;
二、型号尺寸：
1） 型号（CM）:AP-CJ-162  工作室尺寸:45*45*45    外型尺寸:156*87*154.5  样品区尺寸:30*30*25 功率:6.5（KW）
2） 型号（CM）:AP-CJ-340  工作室尺寸:60*60*60    外型尺寸:171*102*184.5 样品区尺寸:45*45*36 功率:8.6（KW）
3） 型号（CM）:AP-CJ-500  工作室尺寸:80*80*80    外型尺寸:191*122*226.5 样品区尺寸:65*65*50 功率:13.5（KW）
4） 型号（CM）:AP-CJ-1000  工作室尺寸:100*100*100 外型尺寸:211*142*266.5 样品区尺寸:85*85*70 功率:15.5（KW）