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进口高低温冲击试验箱

简要描述:进口高低温冲击试验箱特别适用于半导体电子器件做温度破坏测试,主要测试半导体电子器件材料结构在瞬间下经极高温及极低温的连续冲击环境下所能忍受的程度,得以在Z短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。

  • 产品型号AP-CJ
  • 厂商性质生产厂家
  • 更新时间2021-08-03
  • 访  问  量409

详细介绍

  进口高低温冲击试验箱特点
 
  三箱设备区分为:低温区、测高温区、试区三部分,测试产品置于测试区,冲击时高温区或低温区的温度冲入测试区进行冲击, 测试产品为静态式。
 
  进口采用触控式图控操作界面,操作筒易。
 
  冲击方式应用风路切换方式将温度导入测试区,做冷热冲击测试。
 
  系统可作自动循环衙擎或手动选择性冲击并可设定二区或三区冲击及冷冲热冲启始。
 
  高温冲击或低温冲击时,zui大时间可达999H,zui大循环周期可达9999次。
 
  冷却采复叠式二元冷冻系统,降温效果快速,冷却方式为水冷式。
 
  可以试验冲击常温执行满足标准及试验方法: GJB150.5 温度冲击试验;GJB360.7温度冲击试验;GB/2423.22 温度冲击试验。
 
  进口高低温冲击试验箱特别适用于半导体电子器件做温度破坏测试,主要测试半导体电子器件材料结构在瞬间下经极高温及极低温的连续冲击环境下所能忍受的程度,得以在zui短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。本试验箱根据试验需求及测试标准分为三箱式和两箱式,区别在于试验方式和内部结构不同。三箱式分为蓄冷室,蓄热室和试验室,产品在测试时是放置在试验室。两箱式分为高温室和低温室,是通过电机带动提篮运动来实现高低温的切换,产品放在提篮里,是随提篮一起移动的。
 
  技术规格
 
  1. 控制器:*LCD液晶显示触摸屏控制器;
 
  2.工作槽温度范围:(A:-45),(B:-55),(D:-65)~150℃;
 
  3.高度槽温度:60℃ - 200℃;
 
  4.高低温冲击试验箱低温槽温度:(A:-65),(B:-70),(D:-80)~-10℃;
 
  5.温度恢复时间:5分钟以内;
 
  6.高低温曝露时间:30分钟
 
  7.内箱材质:雾面不锈钢SUS304;
 
  8.外箱材质:雾面线条处理不锈钢SUS304;
 
  9.压缩机:法国*全密式压缩机
 
  10.电源:AC380V±10%50HZ 三相四线+保护地线。

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